原裝E+H光譜分析儀常見(jiàn)分類(lèi)方法

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原裝E+H光譜分析儀常見(jiàn)分類(lèi)方法

E+H光譜分析儀的種類(lèi)繁多，常見(jiàn)的分類(lèi)方法如下：

按工作光譜的區域分類(lèi)：紫外-可見(jiàn)光（UV-VIS）光譜儀、可見(jiàn)光（VIS）光譜儀、紫外-可見(jiàn)光-近紅外（VIR）光譜儀等類(lèi)型

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原裝E+H光譜分析儀常見(jiàn)分類(lèi)方法

E+H光譜分析儀的種類(lèi)繁多，常見(jiàn)的分類(lèi)方法如下：

按工作光譜的區域分類(lèi)：紫外-可見(jiàn)光(UV-VIS)光譜儀、可見(jiàn)光(VIS)光譜儀、紫外-可見(jiàn)光-近紅外(VIR)光譜儀等類(lèi)型

按分光系統分類(lèi)：棱鏡分光光譜儀、光柵分光光譜儀、濾色片分光光譜儀

按光路數量分類(lèi)：?jiǎn)温饭庾V儀、多路光譜儀

按探測器分類(lèi)：在可見(jiàn)光范圍內主要有PMT光譜儀和CCD光譜儀兩種，在紫外、近紅外范圍內還有專(zhuān)門(mén)的探測器類(lèi)型

按掃描方式分類(lèi)：機械掃描式光譜儀、快速掃描式光譜儀

按測量對象和測量結果的用途分類(lèi)：分析用光譜儀、光色測量用光譜儀

在照明行業(yè)，通常使用的都是可見(jiàn)光光色測量光譜儀，又細分為機械掃描式和陣列掃描式兩種

單色儀有入射和出射兩個(gè)狹縫，入射狹縫用來(lái)限制雜散光的進(jìn)入，一般位于準直鏡的焦點(diǎn)上。出射狹縫用來(lái)限制光譜帶寬，一般位于物鏡的焦點(diǎn)上。狹縫通常由兩個(gè)具有銳利刀口的精密金屬片構成，分為固定狹縫、單邊可調非對稱(chēng)式狹縫和雙邊可調對稱(chēng)狹縫幾種。用于光色測量的亮度計中，兩個(gè)狹縫通常設計為等寬，且不能自行調節。在用于材料分析的亮度計中，狹縫往往設計成可由儀器自動(dòng)調節寬度。

E+H光譜分析儀一般由分光系統、接收系統和數據處理系統組成，其工作原理是將光源發(fā)出的復色光按照不同的波長(cháng)分離出來(lái)，配合各種光電探測器件對譜線(xiàn)強度進(jìn)行測量，獲得光譜功率(輻射)分布，再計算出色品坐標、色溫、顯色指數、光通、輻射通量等光色性能參數。

原裝E+H光譜分析儀常見(jiàn)分類(lèi)方法